C測試儀 3506-10
發布時間：2019-08-28
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對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
● 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
● 根據BIN的測定區分容量